薄膜熱物性測試儀

型號：HCX09A

該儀器用于測試薄膜材料熱物性參數(shù)。薄膜物理指出當物體很薄時，同樣材料薄膜狀態(tài)的物性與容積狀態(tài)的物性不一定相同，因此對薄膜物性的測量必須在薄膜狀態(tài)下進行。根據物體表面溫度按余弦（或正弦）規(guī)律變化時的瞬態(tài)實驗模型。該儀器采用溫度波法來測試薄膜材料的熱物性參數(shù)，由于薄膜是有限厚的一維模型。在這一狀態(tài)下，當溫度振蕩頻率達到一定值后，利用樣品上、下表面溫度的相位差計算導溫系數(shù)或導熱系數(shù)。儀器于研究薄膜材料熱物性特性。 
主要技術參數(shù)： 
1．導熱系數(shù)范圍：0.05～20w/m·k 
2．儀器實現(xiàn)數(shù)字化測溫，精度優(yōu)于0.2級。 
3．測量結果，準確度 ±3% 
4．計量加熱功率可調節(jié)±1%。 
5.試樣尺寸要求：圓片或方片100*100*（0.1—5）mm. 
6.測試溫度：室溫。 
7.配接計算機實現(xiàn)全自動測試分析。 
儀器配置：測試主機一臺， 
測試軟件一套， 
計算機一套用戶自備，